Vos besoins : caractériser la composition chimique d'extrême surface d'un échantillon par des analyses FIB-TOF-SIMS
Qu’est-ce que le FIB-TOF-SIMS ?
Le Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol (ToF-SIMS en anglais pour Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’imagerie et d’analyse permettant d’obtenir des informations élémentaires et moléculaires sur les espèces présentes en extrême surface d’échantillons à l’état solide.
En somme, elle fournit des informations sur la composition chimique, la distribution spatiale des éléments et les liaisons chimiques de l’échantillon.
Cette technique peut être appliquée à une grande variété de matériaux, y compris les polymères, les matériaux métalliques, les céramiques, et les matériaux composites, sans nécessiter une préparation complexe d’échantillons.
Le FIB (Focused Ion Beam): utilise un faisceau d’ions focalisé pour enlever la matière de la surface des échantillons et créer des coupes transversales dans l’échantillon.
Le FIB-TOF-SIMS est une technique puissante et polyvalente pour l’analyse des matériaux, offrant des capacités uniques en termes de résolution, sensibilité et analyse tridimensionnelle. Il joue un rôle crucial dans l’assurance de la qualité et de la sécurité des produits, ainsi que dans la recherche et le développement de nouveaux matériaux.
Pourquoi réaliser une analyse FIB-TOF-SIMS en laboratoire ?
L’analyse FIB TOF SIMS est particulièrement valorisée pour sa capacité à fournir des informations détaillées sur la composition chimique tant en surface qu’en profondeur des matériaux (jusqu’à 1nm) grâce à des coupes transversales.
Elle permet non seulement d’examiner la surface pour identifier les éléments et molécules présents, mais aussi de réaliser des profils de profondeur en éliminant progressivement des couches, ce qui révèle les variations compositionnelles à différents niveaux. Ainsi, cette technique se distingue par sa capacité à identifier la structure moléculaire des composés.
Cette double capacité d’analyse, spatial et moléculaire, rend l’analyse FIB-TOF-SIMS incontournable pour l’étude de surface, l’étude des interactions entre matériaux, la compréhension de la présence de corrosion, l’analyse des revêtements et bien d’autres applications.
Nos solutions : proposer les techniques d'analyses TOF-SIMS spécifiques à vos demandes et fournir des résultats rapides et fiables
Pourquoi choisir FILAB ?
Le laboratoire FILAB est spécialisé en analyses FIB-TOF-SIMS, dans le cadre de l’étude de la composition chimique et moléculaire des surfaces de matériaux. Adaptés à tous les secteurs industriels, nous combinons expertise en analyse d’extrême surface et technologie de pointe avec le FIB TOF SIMS pour fournir des résultats précis et fiables, à l’échelle nanométrique. Découvrez comment nos analyses FIB-TOF-SIMS peuvent contribuer à la réussite de vos projets garantissant la qualité et l’innovation.
Nos prestations d’analyses par FIB TOF SIMS
L’analyse ou l’expertise par FIB ToF SIMS de la composition chimique élémentaire et moléculaire d’extrême surface d’un échantillon peut être mise en œuvre dans différents contextes :
Exemple de matrices
film, verre et fibre de verre, céramique, implants dentaires, …
