Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode Haut-vide ou vide partiel pour échantillon conducteur et isolant – Détecteur d’électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) – Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore).
Cette technique permet d’étudier les propriétés des matériaux tels que leur composition chimique, leur structure, leur texture, leur porosité, leur taille de particule. Elle est également utilisée pour caractériser les défauts de surface et pour comprendre les mécanismes de l’usure et de la corrosion des matériaux.