Laboratoire d’analyses TOF – SIMS

Analyse d’extrême surface : de quoi parle-t-on ?

La Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à temps de vol (ToF-SIMS en anglais pour Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’analyse permettant d’obtenir des informations élémentaires et moléculaires sur les espèces présentes en extrême surface d’échantillons à l’état solide.

Son principe consiste à bombarder via une source pulsée d’ions primaires (Ga+, Bin+, Au+, C60+, …) la surface à analyser afin de produire des ions secondaires depuis les premières couches monoatomiques de l’échantillon. Ces derniers ions, qu’ils soient positifs ou négatifs, sont ensuite focalisés et accélérés dans un analyseur à temps de vol au sein duquel leurs temps de parcours est fonction de leurs masses. En couplant à un dispositif de balayage du faisceau d’ions primaires, on obtient ainsi une cartographie des différents éléments chimiques et espèces moléculaires en surface de l’échantillon.

Le ToF-SIMS constitue donc une technique d’analyse de surface à très haute sensibilité permettant d’obtenir des limites de détection d’éléments ou de molécules de l’ordre du ppm.

Vos besoins : caractériser la composition chimique d’extrême surface d’un échantillon par ToF-SIMS

L’analyse ou l’expertise par ToF-SIMS de la composition chimique élémentaire et moléculaire d’extrême surface d’un échantillon peut être mise en œuvre dans différents contextes :

  • Expertise par ToF-SIMS dans le cadre d’un projet de R&D associé par exemple à l’optimisation d’un assemblage par collage (caractérisation des fonctions chimiques de surface)
  • Identification d’un dépôt ou d’une pollution observée en surface d’un matériau (diagnostic élémentaire et moléculaire)
  • Vérification de la fonctionnalisation de surface d’un produit lui permettant d’améliorer ses performances en termes d’adhérence, d’accroche mécanique, …

Ces analyses d’extrême surface vous permettent donc de vous assurer de la conformité de vos produits et de répondre à vos problématiques industrielles de défaillances et d’identification de pollutions.

Nos solutions : proposer les techniques d’analyses TOF-SIMS spécifiques à vos demandes et fournir des résultats rapides et fiables

FILAB est un laboratoire interdisciplinaire proposant des services d’analyses et d’expertises, dont certains sont sous accréditation COFRAC ISO 17025 :

– Caractérisation d’extrêmes surfaces

– Analyses par spectrométrie de masse d’ions secondaires SIMS

– Identification élémentaire ou moléculaire par ToF-SIMS

– Diagnostic de la nature de dépôt et de contamination

– Expertise de défaillances (vieillissement d’un produit, décollement mécanique, problématique d’adhérence, …)

– Mise au point et optimisation de la fonctionnalité de surface d’un matériau dans un cadre de R&D

Pour répondre à ces besoins d’analyses par TOF-SIMS, le laboratoire FILAB dispose d’une expertise multisectorielle ainsi que d’un parc analytique à la pointe de la technologie, permettant de répondre avec une forte réactivité et fiabilité aux différentes demandes de clients industriels.

Les + filab

  • Une équipe hautement qualifiée
  • Une réactivité de traitement des demandes
  • Un laboratoire accrédité COFRAC ISO 17025*
  • *Portées disponibles sur www.cofrac.com - N° accréditation : 1-1793)
  • Un parc analytique complet de 2100m²
  • Un accompagnement sur-mesure